黄山系列
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黄山系列
事件驱动 4D-STEM / Ptychography 高速电子探测器
【面向先进材料表征的高速电子探测解决方案】
随着电子显微技术向高时空分辨率和定量化分析不断发展,4D-STEM(四维扫描透射电子显微术)已成为材料科学、半导体分析及纳米结构研究的重要工具。作为该技术的核心组件,高速、高灵敏度的电子探测器对于实现高质量衍射数据采集和先进计算成像至关重要。
德锐特自主研发的黄山系列基于 Timepix3 事件驱动探测技术,具备单电子探测、零读出噪声和纳秒级时间分辨能力,支持超高速 4D-STEM 数据采集与实时分析。产品涵盖 TEM 和 SEM 应用平台,可实现虚拟明场/暗场成像、差分相位衬度(DPC)、质心分析(CoM)及应变与晶体取向分析等多种应用,为先进材料表征和半导体研究提供高性能探测解决方案。

