基于Timepix芯片的黄山直接电子探测相机具有卓越的时间分辨率与零噪声读出能力，能为透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）成像应用提供前所未有的高速成像解决方案。
它支持单电子探测，时间分辨率高达1.56ns，适用于超高速原位成像、四维扫描透射电子成像（4D-STEM）和电子叠层成像（Ptychography）等对成像速度以及单电子成像能力有极高要求的科研场景。推动高速、高探测效率的新时代。
[一体化系统解决方案]
完整系统包含黄山相机、数据采集工作站、（可选)数据重构工作站、专业应用支持与培训服务。通过搭配专业的读出系统与数据处理工作站，可为高端电子显微成像如三维电子衍射、4D-STEM等前沿科研工作提供强有力支持。
[实时、高速、低噪的数据采集]
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高空间分辨率
大面积单芯片阵列（256 × 256像素），可扩展至更大成像视野 -
1.56ns时间分辨率
事件驱动的连续数据采集，4D-STEM同步速率最高可达1,000,000 fps以上 -
超高速数据采集
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TEM：实时连续高帧率读出 -
STEM：超低驻留时间（200ns–1000ns），实现极速4D-STEM成像 -
SEM：支持MHz级别同步控制
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低剂量高信噪比成像
适合对电子束敏感材料的成像 -
强抗辐射能力
稳定支持5–300kV范围内的长时间电子探测 -
灵活安装结构
采用可伸缩设计，支持底部安装，可与CEOS CEFID能量过滤器联合使用 -
事件驱动或帧模式读出
输出模式选择事件驱动时，只输出电子事件，无读出噪音。输出模式选择帧模式，可以支持宽动态范围成像
[强大的专业配套软件，为测试过程提供全面可视化支持]
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帧模式可视化
实时显示帧图像内容支持多帧连续采集，轻松应对动态过程记录
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STEM模式强大功能
实时显示会聚电子束衍射图（CBED），可在CBED图中任意选区，进行实时虚拟成像，支持集成iDPC 和iCoM等模式 -
灵活的数据格式支持
数据可保存为开放格式（如.h5或.npy），便于后期数据处理 -
便捷选取ROI区域 鼠标点击即可选区，结合虚拟成像实现对指定区域（ROI）的数据收集
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可自定义STEM扫描路径
精准控制扫描线圈轨迹，支持用户定义路径，如螺旋式、锯齿式、聚焦ROI路径等，满足多样化扫描需求
[前沿的应用方向]
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4D-STEM扫描透射成像
电子束敏感材料成像，有机材料（如金属有机框架MOFs、蛋白颗粒等） -
原位4D-STEM成像
将空间分辨与时间演化结合，精准捕捉动态微观过程 -
三维电子衍射
高精度解析纳米级或电子束敏感样品的单晶结构 -
动态成像与原位实验
超高速捕捉材料在变化过程中的瞬态行为
【欢迎了解更多】
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